卡方檢驗(yàn)：統(tǒng)計(jì)樣本的實(shí)際觀測值與理論推斷值之間的偏離程度，實(shí)際觀測值與理論推斷值之間的偏離程度就決定卡方值的大?。?卡方值越大，越不符合；卡方值越小，偏差越??，越趋釉桘合?若兩個(gè)值完全相等時(shí)，卡方值就為0，表明理論值完全符合 。
【關(guān)于統(tǒng)計(jì)學(xué)的卡方檢驗(yàn)】卡方檢驗(yàn)是用途非常廣的一種假設(shè)檢驗(yàn)方法，它在分類資料統(tǒng)計(jì)推斷中的應(yīng)用，包括：兩個(gè)率或兩個(gè)構(gòu)成比比較的卡方檢驗(yàn)；多個(gè)率或多個(gè)構(gòu)成比比較的卡方檢驗(yàn)以及分類資料的相關(guān)分析等 。
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